?ATE測(cè)試，即**自動(dòng)測(cè)試設(shè)備（Automatic Test Equipment）測(cè)試**，也稱為自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備。它是一種通過(guò)計(jì)算機(jī)控制進(jìn)行器件、電路板和子系統(tǒng)等測(cè)試的設(shè)備。ATE測(cè)試的主要目的是確保產(chǎn)品的質(zhì)量和性能符合規(guī)格要求。ATE測(cè)試始于60年代早期，主要用于半導(dǎo)體和簡(jiǎn)單的模擬集成電路器件的量產(chǎn)測(cè)試。通過(guò)計(jì)算機(jī)編程，ATE測(cè)試可以取代...
?FCT功能測(cè)試是一種針對(duì)測(cè)試目標(biāo)板（UUT：Unit Under Test）的測(cè)試方法。它通過(guò)模擬實(shí)際的工作環(huán)境和輸入條件，對(duì)電路板或電子設(shè)備的各項(xiàng)功能進(jìn)行驗(yàn)證，以確定其是否正常工作。在FCT功能測(cè)試中，測(cè)試目標(biāo)板被連接到測(cè)試設(shè)備，并為其提供正確的輸入信號(hào)。通過(guò)測(cè)量和觀察輸出端的響應(yīng)，測(cè)試人員可以驗(yàn)證電路板或電子設(shè)備的各項(xiàng)...
?ICT檢測(cè)有兩種不同的解釋。一種解釋是，ICT檢測(cè)即**集成組件測(cè)試**，是一種針對(duì)電子制造過(guò)程中的質(zhì)量檢測(cè)手段。它通過(guò)在單個(gè)設(shè)備或組件上進(jìn)行物理和功能測(cè)試，以驗(yàn)證其是否符合設(shè)計(jì)規(guī)格和性能要求。這種測(cè)試方法廣泛應(yīng)用于電子制造行業(yè)，包括半導(dǎo)體、印刷電路板、電子設(shè)備等。另一種解釋是，ICT檢測(cè)即**集成電路在線測(cè)試**，...
?AOI的中文全稱是**自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)**，是基于光學(xué)原理來(lái)對(duì)焊接生產(chǎn)中遇到的常見(jiàn)缺陷進(jìn)行檢測(cè)的設(shè)備。它是一種新興起的測(cè)試技術(shù)，很多廠家都推出了AOI測(cè)試設(shè)備。當(dāng)AOI進(jìn)行自動(dòng)檢測(cè)時(shí)，機(jī)器通過(guò)攝像頭自動(dòng)掃描PCB（印刷電路板），采集圖像，并將測(cè)試的焊點(diǎn)與數(shù)據(jù)庫(kù)中的合格參數(shù)進(jìn)行比較。經(jīng)過(guò)圖像處理后，AOI能檢查出PCB上的缺陷...